回路電阻測(cè)試儀測(cè)試問(wèn)題及處理方法

      按照常規(guī)設(shè)計(jì)原理設(shè)計(jì)的回路電阻測(cè)試儀在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試時(shí)發(fā)現(xiàn)，都普遍存在一個(gè)問(wèn)題：當(dāng)回路電阻測(cè)試儀電壓接線回路出現(xiàn)接觸不良或開(kāi)路時(shí)，回路電阻測(cè)試儀還會(huì)顯示一個(gè)數(shù)值，此時(shí)會(huì)出現(xiàn)以下幾種情況：

1、電壓回路開(kāi)路，測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)沒(méi)有強(qiáng)電場(chǎng)干擾，這種情況下，由于放大器輸入的差模電壓基本為0，故回路電阻測(cè)試儀顯示的測(cè)試數(shù)值接近為0，如果測(cè)試人員有足夠的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，可以判斷出是回路電阻測(cè)試儀電壓回路測(cè)試線異常，將回路電阻測(cè)試儀電壓回路測(cè)試線異常排除后，可以得出正確測(cè)試結(jié)果。

2、電壓回路接觸不良，大多數(shù)情況下斷路器的接線端子在運(yùn)行后端子排外表面會(huì)產(chǎn)生氧化膜或油膜，當(dāng)回路電阻儀的電壓測(cè)試鉗夾接到這樣的端子排上時(shí)就可能產(chǎn)生接觸不良，既電壓測(cè)試線鉗夾本身也要產(chǎn)生一定的接觸電阻，該接觸電阻值達(dá)到與電壓采樣回路的內(nèi)阻值相當(dāng)時(shí)，將對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生嚴(yán)重影響。

3、電壓回路開(kāi)路或接觸不良(開(kāi)路時(shí)可視接觸電阻R1無(wú)窮大)，測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)有較強(qiáng)的電磁干擾，如母線帶電，此時(shí)帶電母線通過(guò)以空氣為介質(zhì)的電容，干擾回路電阻測(cè)試儀的兩條電壓測(cè)試線，由于干擾的作用使回路電阻測(cè)試儀電壓采集線兩端出現(xiàn)差模電壓。

回路電阻測(cè)試儀利用四線制測(cè)量法解決

回路電阻測(cè)試儀根據(jù)對(duì)以上問(wèn)題的分析，采用了新的電源技術(shù)，通過(guò)大電流恒流源給試品加電測(cè)試，采集電壓電流的數(shù)值，計(jì)算試品的電阻值，克服了脈沖式電源瞬間電流的弊端，可以有效的擊穿開(kāi)關(guān)觸頭氧化膜，解決目前傳統(tǒng)回路電阻測(cè)試儀存在的問(wèn)題。